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簡(jiǎn)要描述：顯微熔點(diǎn)儀（數(shù)顯）
產(chǎn)品型號(hào)：HCSGW X-4 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商更新時(shí)間：2024-09-11訪 問(wèn) 量：1683產(chǎn)品分類(lèi)
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| 詳細(xì)說(shuō)明： | 測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。 性能指標(biāo) 熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至320℃ 測(cè)量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時(shí)） 光學(xué)放大倍數(shù)：目鏡10X；物境4X
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| 是否已審核： | 是 |
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